Розглядаються основи розсіювання рентгенівських променів на атомах та при їх упорядкованому розташуванні у кристалах. Обговорюються особливості дифракції рентгенівського випромінювання та межі застосування квантово-механічного опису взаємодії рентгенівського випромінювання з речовиною. Пропонується систематичний опис точкових операцій симетрії, трансляцій та обговорюється їх роль у структурному факторі розсіювання. Розглядається ідентифікація елементарних комірок за допомогою дифрактограм полікристалічних матеріалів. Розглядаються методи точного визначення параметрів елементарної комірки, яка належить будь-якій з 7 сингоній. Обговорюється методи дослідження кількісного та якісного фазового складу матеріалів та прийоми визначення концентрації фаз. Описується повнопрофільний метод Рітвельда як один з ключових методів рентгенофазового аналізу, що використовується для ідентифікації сингоній елементарних комірок матеріалів та їх уточнення. Застосування методу Рітвельда проілюстровано на реальних прикладах.